2025 年 5 月 14 - 16 日，中國金屬學會煉鋼分會將在山東省濟南市舉辦“2025 年（第二十六屆）全國煉鋼學術會議”。會議主題為“綠色低碳、提質增效、助力新質新發(fā)展”，旨在探討煉鋼技術理論、關鍵共性技術等，推動鋼鐵行業(yè)低碳、智能、高質量轉型。

飛納電鏡將攜鋼鐵行業(yè)解決方案，助力鋼鐵企業(yè)通過微觀結構分析實現(xiàn)綠色、智能發(fā)展。歡迎鋼鐵領域專家、學者、企業(yè)代表參會交流。

會議時間：2025 年 5 月 14-16 日

會議地點：山東 · 濟南 禧悅東方酒店

ParticleX Steel 

由于鋼中非金屬夾雜物的危害，生產高品質潔凈鋼已成為鋼鐵行業(yè)發(fā)展的趨勢，生產潔凈鋼的關鍵在于對非金屬夾雜物的有效控制，控制雜質的關鍵就在于準確、快速和全面地檢測夾雜物的尺寸、形貌和組成，并且對幾千個甚至上萬個夾雜物的大量數(shù)據(jù)進行全自動的統(tǒng)計和冶金分析。冶金工程師和煉鋼部門只有通過及時地獲取直觀易懂的夾雜物分析數(shù)據(jù)報告，才能對煉鋼工藝過程中的非金屬夾雜物進行有效的控制，從而保證高品質鋼的穩(wěn)定生產。

在各種夾雜物分析技術中，目前國內外認可的準確和可靠的方法是使用全自動一體化的快速夾雜物分析儀對夾雜物進行檢測分析。傳統(tǒng)光學顯微鏡（OM）僅能評估夾雜物形貌，無法實現(xiàn)成分精準分類與統(tǒng)計，制約工藝優(yōu)化效率；而夾雜物自動分析系統(tǒng)以掃描電鏡和能譜儀為硬件基礎，可以全自動對鋼中非金屬夾雜物進行快速識別、分析和分類統(tǒng)計，為客戶的研發(fā)及生產提供快速、準確和可靠的定量數(shù)據(jù)支持。

ParticleX Steel 全自動鋼鐵夾雜物分析系統(tǒng)可對大尺寸樣品進行原位統(tǒng)計，輸出夾雜物數(shù)量、尺寸分布、體積分數(shù)及三元相圖成分分布等結果。相比手動分析，效率提升 10 倍以上，且支持一鍵定位異常夾雜物進行深度分析。

Phenom 飛納臺式掃描電鏡 

失效件斷口分析

斷口分析是金屬材料失效分析的重要手段，為斷裂機理和內部狀態(tài)分析提供依據(jù)，不同的斷口形貌往往對應這不同的斷裂類型和機制，如象征韌性斷裂的韌窩，出現(xiàn)穿晶解理/沿晶斷口的脆性斷裂，帶有白點、魚眼型穿晶斷口的氫脆斷裂等等。飛納臺式掃描電鏡優(yōu)秀的二次電子和背散射電子成像可以幫助用戶快速的獲得斷口的形貌信息，通過對這些斷裂特征的分析，能夠很好的分析鋼鐵零部件的失效機理，反推產品性能，幫助優(yōu)化生產工藝。

除了斷口形貌外，由于鋼鐵材料中雜質元素的存在、成分偏析、夾雜物等異常點常常會導致應力集中，可以借助背散射電子和能譜分析對斷口處的異常點進行分析，推斷失效原因。如下圖中為軸承鋼斷口掃描電鏡（SEM）圖，軸承鋼是一種合金含量少、性能優(yōu)良的鋼材，其應用廣泛，經過淬火加回火后，具有高而均勻的硬度。軸承鋼的基本質量要求是純凈、組織均勻，通過對其斷口處的異常點進行 EDS-mapping 后發(fā)現(xiàn)，在該處存在明顯的成分不均的富集相，這可能是該軸承鋼材料失效的重要誘因。

飛納電鏡型號推薦

Phenom AFM-SEM 原子力掃描電鏡一體機

Phenom Pharos 臺式場發(fā)射掃描電鏡

Phenom XL 大樣品式版

Phenom ProX 電鏡能譜一體機

SEM 制樣設備-離子研磨儀

金相分析

晶間腐蝕隱蔽性強，突發(fā)性破壞幾率大，因此有嚴重的危害性。使用離子研磨儀 SEMPREP SMART對金相樣品進行研磨后，可以很好的進行晶粒、晶界的形態(tài)、成分分析。如下圖所示為 316 不銹鋼的晶界結構（A）和晶界處的 EDS 分析結果（B），該結果清晰的展示了 Cr 元素在晶界處的富集。